设计给 Substrate, L/F, 2DID Code marking 解决方案, 适合给目前市场上所常见各种尺寸的L/F, Substrate 产品打印2DID。 打印品质良率以及偏移量可同步透过QC 系统计算并且传送至打印系统微调，客户也可选择Mark-Out功能，让打印内容有更多选择。
